Perchè Nanos SEM

NANOS di Semplor è IL NUOVO SEM da banco, progettato da zero in Olanda affidabile e dai costi di esercizio contenuti. Perchè affidarsi alla tecnologia Nanos?

45%

Costi di esercizio contenuti

Maggior Risoluzione di immagine

-90%

Interventi di assistenza

Qualità di imaging senza compromessi

Rendiamo il SEM accessibile a chiunque e dovunque.

Il NANOS è un microscopio elettronico a scansione (SEM) da banco completo e conveniente. È costruito utilizzando la tecnologia più recente, fornisce immagini SEM e di qualità impeccabile e analisi elementale. Il suo design è robusto e moderno, il che lo rende perfetto per la ricerca e lo sviluppo e l'industria.

  • Risoluzione. La risoluzione del Nanos è <10nm, la qualità dell’imaging da vero e proprio “floor SEM”.
  • Facilità di utilizzo, grazie all’interfaccia software moderna ed intuitiva.
  • Affidabilità e facilità di Service. Nella progettazione del NANOS sono stati usati i moderni principi del “Design for Reliability and Maintenance”    
  • Costi di esercizio contenuti. La tecnologia di cui il NANOS è dotato consente di preservare la vita del filamento, riducendo in tal modo il costo per il consumabile.
  • Integrazione della microanalisi EDS. NANOS nasce con questa importante funzione integrata, non è necessario quindi acquistare alcuna sonda da terze parti. 
SEM da banco (scanning electron microscope)

Ricerca & Sviluppo

 

Nel campo della ricerca scientifica, il SEM è ampiamente utilizzato nella caratterizzazione di materiali e microstrutture. Ad esempio, nella metallurgia, il SEM permette di esaminare la struttura dei materiali metallici, rilevare inclusioni, porosità e difetti, fornendo informazioni fondamentali per migliorare le proprietà meccaniche e la durabilità dei materiali utilizzati in diverse applicazioni.

SEM da banco (scanning electron microscope)

Industria

 

Nell'industria il Microscopio Elettronico a Scansione (SEM) è uno strumento diagnostico e analitico estremamente prezioso. La sua alta risoluzione e capacità di imaging consentono un'analisi approfondita delle superfici e delle microstrutture dei materiali, fornendo informazioni chiave per migliorare la qualità dei prodotti, risolvere problemi di produzione e sviluppare nuove tecnologie.

In primo piano

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INCONTRIAMOCI

  • 11-15 maggio 2025, Bertinoro (FC)EUPOC 2025 – MacroLight

  • 5-6 giugno 2025, ModenaNanoscience Institute 4th workshop - “Reconnecting, inspiring interactions“

  • 8 luglio 2025, VeneziaFISMAT 2025

  • 22 luglio 2025Webinar: a new Discover

  • 7-12 settembre 2025, Portoroz (Slovenia)17MCM - 17° Multinational Congress on Microscopy

  • 21-23 ottobre 2025, BolognaGiornate di Dipartimento DSCTM 2025

  • 19 novembre 2025, Corsico (MI)Corso di Formazione – Dal microscopio ottico al SEM: applicazioni pratiche per il controllo qualità dei metalli

  • 4-6 marzo 2026, BolognaMECSPE 2026

  • 19 marzo 2026, PerugiaMetrologia ottica 3D – Misura di forma e superficie per processi manifatturieri avanzati

  • 26-27 maggio 2026, LeccoCorso AIM - Microscopia Elettronica in Scansione (SEM) - V edizione

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